微动开关电寿命试验微机测控系统的研制

• 作者: 方鸿发 杨中辉
• 来源期刊: 电子元件
• 学科: 工学
• 关键词: 微动开关 寿命试验 微机测控系统
• 年，卷（期）: 1996,（3）
• 页码范围: 119-124
• 页数: 6页
• 分类号: TM564.606

摘要

本文介绍为贯彻国军标《ＧＪＢ８０９－９０微动开关通用规范》而研制的微动开关电寿命试验微机测控系统。此系统可选拔开关试验的操作速率，能逐次监测多达３２对触点电压降与电源电压的比值，测量触点接触电阻等。系统集控制、监测、数据采集、存储、处理及试验结果的显示、打印为一体，它能直接给出统计结果的直方图、接触电阻变化曲线图。试验人员可根据得出的数据迅速判定被试开关的质量与可靠性水平。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方鸿发		3	9	1.0	3.0
2	杨中辉		1	0	0.0	0.0