PC型HgCdTe探测器的记忆效应

• 作者: 刘泽金 舒柏宏 蒋志平 陆启生
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: PC型HgCdTe探测器 记忆效应 动态响应 退火
• 年，卷（期）: 1998,（4）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 317-320
• 页数: 4页
• 分类号: TN2
• 字数: 3048字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.1998.04.015

摘要

通过测量PC型HgCdTe探测器的动态响应,发现在工作温度(77K)下,激光辐照后,探测器的电导率产生改变(记忆),电阻变化率提高,这种现象在工作温度下能长期保持.当升温(至室温)后,记忆功能消失.本文对这种现象进行了多方面的实验研究和机理的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆启生	国防科技大学应用物理系	83	1040	18.0	29.0
2	刘泽金	国防科技大学应用物理系	42	499	12.0	21.0
3	舒柏宏	国防科技大学应用物理系	16	235	8.0	15.0
4	蒋志平	国防科技大学应用物理系	2	25	1.0	2.0