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摘要:
本文介绍了一种快速测量正温度系数热敏电阻(PTCR)的重要参数(居里温度Tc和电阻温度系数αt)的测量方法,并根据这种方法设计了PTCR特性参数Tc,αt快速测试仪,该仪器的使用改变了传统测试方法时间长,工作量大的状况。通过测量PTCR在室温和两个特征温度下的电阻值,该仪器能很快计算并显示出Tc和αt的结果,大大提高了测试效率,该仪器以8031单片机系统为核心,简单实用,使用方便,成本低,文中介绍
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 正温度系数热敏电阻(PTCR)特性参数快速测试仪
来源期刊 上海微电子技术和应用 学科 工学
关键词 正温度系数 热敏电阻 居里温度 电阻温度系数
年,卷(期) 1998,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 13-16
页数 4页 分类号 TN373.07
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 舒庆 东南大学电子工程系 2 4 1.0 2.0
2 孟陆强 东南大学电子工程系 1 0 0.0 0.0
传播情况
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1998(0)
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研究主题发展历程
节点文献
正温度系数
热敏电阻
居里温度
电阻温度系数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海微电子技术和应用
季刊
1006-9453
31-1239/TN
上海市胶州路397号 上海半导体器件研究
出版文献量(篇)
435
总下载数(次)
3
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