X射线荧光基本参数法测定Y1―xCexBa2cu3Oy强的钇铈钡铜

• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 工学
• 关键词: 高温超导体 实际组分 超导体 钇 铈 钡 铜 分析
• 年，卷（期）: 1998,（4）
• 页码范围: 503-506
• 页数: 4页
• 分类号: TM262
• 语种: 中文

摘要

该文用X射线荧光光谱基本参数法测定了Y1－XCEXBA2CU3OX系列样品中的钇铈钡铜含量,然后折算成它们的原子比,测量的结果与ICP的结果接近,为非破坏地测定高温超导体的实际组分进行了一次尝试.