X射线荧光光谱分析中基体效应的数学校正方法新探

• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光分析 基体效应 基本参数法 不锈钢
• 年，卷（期）: 1998,（3）
• 页码范围: 111-116
• 页数: 6页
• 分类号: O657.34
• 语种: 中文

摘要

用开发的TBHXRF基本参数法程序计算了复杂样品的基体效应.提出一个修正多元体系基体效应的校正数学模型和计算影响系数α及β,导出的校正模式及影响系数的物理意义清楚、明确.用该法分析了不锈钢样品获得良好的结果.还指出在某些情况中,三次荧光的影响不能忽略,从对比实验中得出结论,对NI浓度高的钢铁样品在分析CR时,必须考虑NI、FE对CRKα的三次荧光效应影响.