碲化物薄膜的附着牢固度与其显微结构的关系

• 作者: 凌洁华 周诗瑶 张素英 施天生 王葛亚 程实平 范滨
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: 碲化物 薄膜 显微结构 附着牢固度
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 327-331
• 分类号: TQ12
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.1999.04.013

摘要

用X射线衍射(XRD)和透射电镜术(TEM)观察Si和Ge基板上PbTe、CdTe及PbGeTe单层薄膜及其与ZnS组合的多层薄膜的显微结构,给出了薄膜附着牢固度与薄膜显微结构的关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	凌洁华		2	8	2.0	2.0
2	张素英	中国科学院上海技术物理研究所	14	22	3.0	3.0
3	范滨	中国科学院上海技术物理研究所	5	49	3.0	5.0
4	程实平		1	3	1.0	1.0
5	周诗瑶	上海师范大学测试中心	1	3	1.0	1.0
6	王葛亚	中国科学院上海冶金研究所	1	3	1.0	1.0
7	施天生	中国科学院上海冶金研究所	1	3	1.0	1.0