高压开关触头超声C扫描图象缺陷阈值的标定

• 作者: 张旭宏 梅林 程秋云 薛锦 陈怀东 陈敏健 陈自强
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电触头 C扫描 逆标算法 标定 钎着率 阈值
• 年，卷（期）: 1999,（2）
• 所属期刊栏目: 专题论述
• 页码范围: 74-75
• 分类号: TM5|TM8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.1999.02.025

摘要

利用人工缺陷对高压开关电触头超声C扫描成象检测参数进行了标定.其中对关键参数之一--图象缺陷阈值的确定采用了一种新的算法(逆标算法).经过对C扫描的试样进行解剖分析并与C扫描图象计算的钎着率对比,结果非常吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛锦		99	930	19.0	24.0
2	陈怀东		9	51	4.0	7.0
3	梅林		8	151	5.0	8.0
4	陈敏健		3	16	3.0	3.0
5	陈自强		4	123	4.0	4.0
6	张旭宏		1	10	1.0	1.0
7	程秋云		1	10	1.0	1.0