d-叉树k-FT结构的可靠性分析及冗余单元的分配

• 作者: 周涤非 许冬岗 赵天绪 郝跃
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: d-叉树 可靠性分析 覆盖因子 冗余单元分配
• 年，卷（期）: 1999,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文和技术报告
• 页码范围: 197-200
• 页数: 4页
• 分类号: TN47
• 字数: 3578字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.1999.02.015

摘要

随着芯片面积的增加及电路复杂性的增强,系统的可靠性逐渐下降.为了保证有较高的可靠性,人们将容错技术引进了集成电路的设计中.文中分析了d-叉树的k-FT结构的可靠性,同时讨论了如何分配冗余单元才能使系统具有较高可靠性的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝跃	西安电子科技大学微电子研究所	312	1866	17.0	25.0
2	赵天绪	西安电子科技大学微电子研究所	23	88	6.0	8.0
3	周涤非	西安电子科技大学微电子研究所	2	3	1.0	1.0
4	许冬岗	西安电子科技大学微电子研究所	4	6	2.0	2.0