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摘要:
利用光电子能谱XPS研究CeO2包覆TiO2后氧化还原性能.TEM照片证明实验中制备出包覆材料;Ce3d谱线说明加入TiO2后CeO2非常容易还原,吸氧时它能够再氧化.由于CeO2的晶体结构发生畸变,CeO2的活化能降低,有利于氧空位移动,所以CeO2容易还原氧化.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 CeO2包覆TiO2的XPS研究
来源期刊 北京科技大学学报 学科 化学
关键词 CeO TiO XPS 包覆
年,卷(期) 1999,(4) 所属期刊栏目 冶金科学与工程
研究方向 页码范围 331-333
页数 分类号 O652.1
字数 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1001-053X.1999.04.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李文超 北京科技大学冶金学院 95 779 14.0 22.0
2 张梅 北京科技大学冶金学院 108 803 14.0 24.0
3 刘振祥 中科院物理所表面物理国家重点实验室 1 5 1.0 1.0
4 谢侃 中科院物理所表面物理国家重点实验室 1 5 1.0 1.0
5 杜雪岩 北京科技大学冶金学院 3 49 2.0 3.0
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CeO
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包覆
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工程科学学报
月刊
2095-9389
10-1297/TF
大16开
北京海淀区学院路30号
1955
chi
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