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X射线透视对MOS电容性能的影响
X射线透视对MOS电容性能的影响
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摘要：
利用ＳＯＦＲＯＮＢＳＴ－１５０５Ｃ型Ｘ光机，对三种ＭＯＳ电参０、２８受Ｘ射线照射后的平带电压的漂移量进行测试和分析，从而分析Ｘ射一辐射后对ＭＯＳ电容器件的影响。
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文献信息
| 篇名 | X射线透视对MOS电容性能的影响 | ||
| 来源期刊 | 空军电讯工程学院学报 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | X射线 MOS电容 电子元器件 | ||
| 年，卷（期） | kjdxgcxyxb_1999,（4） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 64-66 | |
| 页数 | 3页 | 分类号 | TM53 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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