超导薄膜磁场穿透深度的精确测量

• 作者: 徐凤枝 杜寰 杨乾声 王瑞峰 赵士平 陈赓华
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 页码范围: 309-312
• 页数: 4页
• 分类号: O4
• 字数: 2902字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.1999.04.016

摘要

磁场穿透深度λ是超导体的一个基本参数,目前,一般测试穿透深度的实验只能给出其变化量Δλ=λ(T)-λ(0),而不能得到λ的绝对值.并且由于测量精度的限制,用给定的理论模型拟合实验结果而得到的λ也有很大的不确定性.本文对此进行了详细的分析,并用双线圈互感法研究了超导薄膜穿透深度的精确测量,并给出了磁控溅射Nb膜的测量结果.我们的研究表明,这一方法能较为准确地给出λ的绝对值,从而避免了以往的测量及拟合所导致的不确定性.基于BCS理论并考虑样品有限的电子平均自由程后,理论计算结果与我们的测量结果吻合较好.