原子力显微镜在化学中的应用

• 作者: 刘嘉 王焕茹 高鸿锦*
• 来源期刊: 化学通报（网络版）
• 关键词: 原子力显微镜 表面分析 评述
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 语种: 中文

摘要

原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)是在扫描隧道显微镜基础上发展起来的一种新型显微镜,利用探针表面原子与样品表面原子之间相互作用力,使用接触和非接触两种模式获得导体、非导体材料以及液体的表面信息.目前AFM在化学领域中已经有了多方面的应用.本文简要介绍了AFM的原理及其在化学中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘嘉	清华大学化学系	28	409	9.0	20.0
2	王焕茹	清华大学化学系	1	0	0.0	0.0
3	高鸿锦*	清华大学化学系	1	0	0.0	0.0