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摘要:
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)是在扫描隧道显微镜基础上发展起来的一种新型显微镜,利用探针表面原子与样品表面原子之间相互作用力,使用接触和非接触两种模式获得导体、非导体材料以及液体的表面信息.目前AFM在化学领域中已经有了多方面的应用.本文简要介绍了AFM的原理及其在化学中的应用.
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文献信息
篇名 原子力显微镜在化学中的应用
来源期刊 化学通报(网络版) 学科
关键词 原子力显微镜 表面分析 评述
年,卷(期) 1999,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围
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字数 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘嘉 清华大学化学系 28 409 9.0 20.0
2 王焕茹 清华大学化学系 1 0 0.0 0.0
3 高鸿锦* 清华大学化学系 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
原子力显微镜
表面分析
评述
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