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摘要:
文中提出了一种快速离散余弦变换(FCT)电路的并发错误检测(CED)结构.为了达到100%的故障覆盖率,FCT采用基于第3类离散余弦变换的B.G.Lee算法蝶型结构实现.检测采用的方法是基于算法的并发错误检测容错方法,因为基于算法的容错(ABFT)技术的硬件冗余量较少.对所提出的结构,文中证明了其100%的故障检测能力.但在实际应用中,由于有限字长效应会带来误差,因此文中分析了有限字长效应对系统的吞吐量及故障覆盖率的影响,并给出了结论.
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文献信息
篇名 FCT网络的并发错误检测结构
来源期刊 计算机研究与发展 学科 工学
关键词 快速离散余弦变换 并发错误检测 基于算法的容错技术 吞吐量 故障覆盖率
年,卷(期) 1999,(10) 所属期刊栏目 计算机技术
研究方向 页码范围 1246-1252
页数 7页 分类号 TP306
字数 3755字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 叶以正 哈尔滨工业大学微电子中心 67 544 14.0 21.0
2 毛志刚 哈尔滨工业大学微电子中心 58 658 14.0 23.0
3 陈禾 哈尔滨工业大学微电子中心 3 3 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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2001(1)
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研究主题发展历程
节点文献
快速离散余弦变换
并发错误检测
基于算法的容错技术
吞吐量
故障覆盖率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机研究与发展
月刊
1000-1239
11-1777/TP
大16开
北京中关村科学院南路6号
2-654
1958
chi
出版文献量(篇)
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35
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