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摘要:
采用半经验色散公式分析了LT-GaAs厚衬底共面微带传输线的THz模式色散与切伦柯夫辐射损耗特性,同时计算了导体欧姆损耗和衬底介电损耗.结果表明,较小的横向尺寸有利于改善LT-GaAs共面微带传输线模式色散和辐射损耗特性,较大的横向尺寸比可降低导体欧姆损耗.
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文献信息
篇名 光激发LT-GaAs共面微带传输线THz色散与衰减特性
来源期刊 红外与毫米波学报 学科 工学
关键词 LT-GaAs THz 共面微带传输线 色散 切伦柯夫辐射
年,卷(期) 2000,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 98-102
页数 5页 分类号 TN2
字数 4688字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1001-9014.2000.02.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张海潮 中山大学物理系超快速激光光谱学国家重点实验室 11 44 4.0 6.0
2 文锦辉 中山大学物理系超快速激光光谱学国家重点实验室 26 120 7.0 10.0
3 郭冰 中山大学物理系超快速激光光谱学国家重点实验室 33 114 6.0 9.0
4 林位株 中山大学物理系超快速激光光谱学国家重点实验室 40 155 8.0 10.0
5 钟伟彬 中山大学物理系超快速激光光谱学国家重点实验室 5 17 2.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
LT-GaAs
THz
共面微带传输线
色散
切伦柯夫辐射
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外与毫米波学报
双月刊
1001-9014
31-1577/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-335
1982
chi
出版文献量(篇)
2620
总下载数(次)
3
总被引数(次)
28003
论文1v1指导