分层媒质复介电常数测量的一种方法

• 作者: 梁昌洪 马国田
• 来源期刊: 微波学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 分层媒质 复介电常数 微波测量 遗传算法
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 122-125
• 页数: 4页
• 分类号: O42
• 字数: 2349字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-6122.2000.02.005

摘要

本文给出一种测量分层媒质复介电常数的方法,经过多次测量复反射系数并建立恰当的目标函数,采用遗传算法求解这一优化问题可得到分层媒质的参数.测量结果表明,对于层数较少的媒质,在各分层厚度未知的情况下仍可测得各分层的复介电常数,同时测得分层厚度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁昌洪	西安电子科技大学微波电信工程系	287	2133	24.0	30.0
2	马国田	西安电子科技大学微波电信工程系	4	35	2.0	4.0