矿物中单个有机包裹体测试与TOF-SIMS技术的应用

• 作者: 周生斌 李荣西
• 来源期刊: 矿物学报
• 关键词: 有机包裹体 分析测试 飞行时间二次离子质谱
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 172-176
• 页数: 5页
• 分类号: P57
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-4734.2000.02.012

摘要

有机包裹体是一种富含有机质的矿物流体包裹体.单个有机包裹体在研究成岩成矿作用和油气成藏历史过程方面具有重要的实用价值.目前常用于单个有机包裹体分析的技术有荧光光谱、显微傅立叶红外光谱、激光拉曼光谱和二次离子质谱(SIMS)等.本文对这些方法的应用现状和存在的问题进行了客观的分析,同时还介绍了一种可用于单个有机包裹体分析的新技术--飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),对其分析原理、方法和应用前景等进行了讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李荣西	中国科学院地球化学研究所矿床地球化学开放研究实验室	9	291	7.0	9.0
5	周生斌	吐哈石油勘探开发研究院试验中心	2	11	2.0	2.0