XPS、AFM和ToF-SIMS的工作原理及在植物纤维表面分析中的应用

• 作者: 李可成 林鹿 雷晓春
• 来源期刊: 中国造纸学报
• 学科: 工学
• 关键词: XPS AFM ToF-SIMS 原理 纤维表面
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 97-101
• 页数: 5页
• 分类号: TS721
• 字数: 5158字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6842.2006.04.023

摘要

介绍了先进的表面分析仪器化学分析电子能谱(XPS)、原子力显微镜(AFM)、含飞行时间分析器的二次离子质谱仪(ToF-SIMS)的工作原理,回顾了近年来它们在植物纤维表面分析中的成功应用,综合利用XPS、AFM及ToF-SIMS方法,可分析和解决制浆造纸过程中的现象和问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林鹿	华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室	123	1269	18.0	28.0
2	雷晓春	华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室	15	92	6.0	9.0
3	李可成	加拿大新布朗斯克大学制浆造纸研究中心	1	26	1.0	1.0