基于"Bennia-Riad”准则频域反卷积

• 作者: 刘明亮 贺云辉
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: Rennia-Riad准则 高通系统 带通系统 反卷积
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 页码范围: 19-21
• 页数: 3页
• 分类号: TN91
• 字数: 1604字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2000.01.007

摘要

文中首先简介了"Bennia-Riad”准则和扩展的"Bennia-Riad”准则;其次介绍了基于扩展的"Bennia-Riad”准则的高通系统的反卷积问题;最后介绍了基于"Bennia-Riad”准则的带通系统的反卷积问题

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘明亮		36	327	9.0	16.0
2	贺云辉		2	35	2.0	2.0