端粒、隐性嵌合体、杂合性丢失与多基因遗传病

• 来源期刊: 国外医学(免疫学分册)
• 学科: 医学
• 关键词: 端粒 隐性嵌合体 多基因遗传病
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 页码范围: 48-49
• 页数: 2页
• 分类号: R596
• 语种: 中文

摘要

端粒的长度和耗损速度是决定细胞复制潜力的两个重要因素 ,端粒的耗损不但引发细胞衰老、杂合性丢失 ,而且导致致病等位基因的表达.多基因遗传病的发病决定于多种致病基因的遗传率和端粒的耗损量、隐性嵌合体存在范围之间的相互作用