用成像板探测正电子实验

• 作者: 于润升 王宝义
• 来源期刊: 北京同步辐射装置年报
• 学科: 物理学
• 关键词: 成像板 正电子实验 正电子探测 正电子谱学
• 年，卷（期）: bjtbfszznb_2000,（1）
• 页码范围: 281-282
• 页数: 2页
• 分类号: O572.322

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宝义	中国科学院高能物理研究所	69	258	9.0	12.0
2	于润升	中国科学院高能物理研究所	12	18	3.0	3.0