氟化钡晶体质子辐照的正电子湮没寿命谱研究

• 作者: 张晋 杨菁菁
• 来源期刊: 杭州电子科技大学学报（自然科学版）
• 关键词: 氟化钡晶体 质子 正电子湮没寿命谱
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 页码范围: 71-73
• 页数: 3页
• 分类号: O571.33
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9146.2006.02.019

摘要

采用正电子湮没寿命谱方法研究BaF2晶体质子辐照效应.研究能量为1.5MeV和2.0MeV质子辐照BaF2晶体的正电子湮没寿命谱,比较两种情况下受照晶体的辐照损伤.正电子湮没寿命谱说明BaF2晶体质子辐照的电离效应显著,由于电离会使晶体中少量金属离子产生变价效应,引起位移损伤.1.5MeV能量的质子辐照比2.0MeV能量的质子辐照产生的位移损伤大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张晋	云南大学物理系	32	121	6.0	9.0
2	杨菁菁	杭州电子科技大学理学院	8	2	1.0	1.0