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摘要:
建立了MOS控制晶闸管最大可关断电流的解析关系式.在该关系式中,关断电流只与晶闸管中耦合晶体管的电流放大系数及晶闸管射极短路电流有关.另外,基于MOS控制晶闸管的仿真模型,模拟分析了最大可关断电流与它们间的关系.解析与模拟分析结果符合较好.结果表明,耦合晶体管电流放大系数及晶闸管射极短路电流的设计决定了器件的最大可关断电流.
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文献信息
篇名 MOS控制晶闸管的最大可关断电流
来源期刊 西安电子科技大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 MOS控制晶闸管 最大可关断电流 电流放大系数
年,卷(期) 2000,(2) 所属期刊栏目 学术论文和技术报告
研究方向 页码范围 133-137
页数 5页 分类号 TN34|TN386.1
字数 3760字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2400.2000.02.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 戴显英 西安电子科技大学微电子研究所 55 329 10.0 15.0
2 张鹤鸣 西安电子科技大学微电子研究所 102 510 12.0 16.0
3 王伟 西安电子科技大学微电子研究所 83 505 12.0 18.0
4 林大松 西安电子科技大学微电子研究所 5 0 0.0 0.0
5 解勇 西安电子科技大学微电子研究所 2 12 1.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
MOS控制晶闸管
最大可关断电流
电流放大系数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
西安电子科技大学学报(自然科学版)
双月刊
1001-2400
61-1076/TN
西安市太白南路2号349信箱
chi
出版文献量(篇)
4652
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5
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