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摘要:
以典型Ⅱ型系统为例,对采样频率和系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响进行了理论分析,给出了系统采样频率、系统延迟、开环截止频率以及相位裕量之间的关系式和关系曲线,为跟踪系统的设计与分析提供了简单有效的方法.仿真结果证明结论是正确的.这种方法可以用于其他类型系统的分析.
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文献信息
篇名 采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响
来源期刊 光学精密工程 学科 航空航天
关键词 采样频率 相位裕量 系统延迟 跟踪系统
年,卷(期) 2000,(4) 所属期刊栏目 光电跟踪与自动控制
研究方向 页码范围 369-372
页数 4页 分类号 V556.5
字数 2052字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1004-924X.2000.04.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 葛文奇 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 42 647 12.0 24.0
2 王连明 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 9 136 5.0 9.0
3 谢慕君 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 6 125 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
采样频率
相位裕量
系统延迟
跟踪系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学精密工程
月刊
1004-924X
22-1198/TH
大16开
长春市东南湖大路3888号
12-166
1959
chi
出版文献量(篇)
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