一种测量镀层厚度的新方法

• 作者: 俞阿龙
• 来源期刊: 计量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 镀层 厚度 测量 霍尔集成电路
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 测量与设备
• 页码范围: 7-10
• 页数: 4页
• 分类号: TB9
• 字数: 1190字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2000.02.002

摘要

介绍以MCS-51单片机为核心,利用霍尔集成电路、集成函数运算放大器、V/F转换器等组成的新型镀层厚度测量仪.适合于对导磁工件上镀(涂)有非导磁材料的镀(涂)层厚度的测量.