X射线残余应力的层析扫描测定

• 作者: 周上祺 陈玉安
• 来源期刊: 重庆大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: X射线应力分析 X射线积分法 层析扫描
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 页码范围: 100-103
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.22|TG115.23|TG115.28
• 字数: 3060字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-582X.2000.06.027

摘要

针对常规X射线残余应力测定法和美国X2001应力仪测定方法存在的问题,提出了测定低原子序数材料内部三维应力的层析扫描方法,对装置和测定原理进行了讨论,设计出适合于层析扫描测定方法的计算机程序.根据提供的试验数据,能够对这类材料表面及内部任意一点进行全三维应力分析,计算应力及梯度和被测材料的晶面间距,并有一套计算的自我控制机制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周上祺	重庆大学材料科学与工程学院	85	912	16.0	27.0
2	陈玉安	重庆大学材料科学与工程学院	33	431	10.0	20.0