【正】 Y2000-62135-44 0017871W-插塞接触电子迁移性能递减轮廓=Step like degra-dation profile of electromigration of W-plug contact[会,英]/Qiang,G.& Foo,L.K.//1999 IEEE Proceed-ings of International Interconnect Technology Confer-ence.—44~46(EC)0017872浅谈电子元器件失效[刊]/陈旭标//电子元件与材料.—2000,19(4).—42~43(C)电子元器件的失效会给电子整机带来故障。对整机中元器件的失效从两个角度进行了分析:(1)元器件自身因设计、材料、制造原因引起的失效;(2)整机厂的设计、作业引起的元器件失效。提出了针对性改善措施。