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摘要:
【正】 Y2000-62135-44 0017871W-插塞接触电子迁移性能递减轮廓=Step like degra-dation profile of electromigration of W-plug contact[会,英]/Qiang,G.& Foo,L.K.//1999 IEEE Proceed-ings of International Interconnect Technology Confer-ence.—44~46(EC)0017872浅谈电子元器件失效[刊]/陈旭标//电子元件与材料.—2000,19(4).—42~43(C)电子元器件的失效会给电子整机带来故障。对整机中元器件的失效从两个角度进行了分析:(1)元器件自身因设计、材料、制造原因引起的失效;(2)整机厂的设计、作业引起的元器件失效。提出了针对性改善措施。
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文献信息
篇名 失效物理
来源期刊 电子科技文摘 学科 工学
关键词 电子元器件 失效物理 迁移性能 改善措施 电子元件 电子整机 接触电 器件失效 网络故障 针对性
年,卷(期) 2000,(11) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 3-4
页数 2页 分类号 TN
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研究主题发展历程
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电子元器件
失效物理
迁移性能
改善措施
电子元件
电子整机
接触电
器件失效
网络故障
针对性
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子科技文摘
月刊
1009-0851
11-4388/TN
16开
1999
chi
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