β+延发粒子衰变的一种在束测量方法

• 作者: 华辉 卢朝晖 吴和宇 岑玲 张保国 朱海东 李湘庆 李祖玉 柳永英 段利敏 王宏伟 王素芳 肖志刚 胡荣江 陈克良 陈陶 靳根明 魏志勇
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 次级束流线 β+延发粒子衰变 飞行时间 能损 半衰期
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 页码范围: 417-419，439
• 页数: 4页
• 分类号: O571.1
• 字数: 2234字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2001.06.001

摘要

报道了一种在束测量β+延发粒子的方法.由新建成的兰州放射性次级束流线(RIBLL)提供的20Na次级束,利用飞行时间(TOF)和能损(ΔE)符合的方法实现20Na次级束流的在束鉴别与调制.将数据获取过程分为有束和停束两个获取时段,分别完成对次级束流和β+延发粒子的记录.同时利用脉冲发生器和计数器实现20Na 延发粒子衰变半衰期的测量.