CMOS模拟开关的失效分析及使用可靠性

• 作者: 田耀亭
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS模拟开关
• 年，卷（期）: 2001,（9）
• 页数: 2页
• 分类号: TN409

摘要

本文结合CMOS模拟开关的特点,介绍了这类电路的失效分析方法.同时,在总结了大量失效分析案例的基础上,讨论了其有特殊的使用可靠性问题.并对使用中应注意的问题提出了建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田耀亭		2	0	0.0	0.0