能量色散X射线荧光法测定涂钯硅藻土中的钯含量

• 作者: 杨明太 陈锦华 齐红莲
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光 涂钯硅藻土 内标法 钯含量
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 139-141,138
• 页数: 4页
• 分类号: TL271.5
• 字数: 2274字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2001.02.018

摘要

在涂钯硅藻土样品中定量加入内标元素Mo和王水，制成分析试样，用能量色散X射线荧光(EDXRF)法测定钯含量。该方法可测定钯含量为5%～50%范围的涂钯硅藻土样品，方法快速、简便，其相对标准偏差优于1%，回收率98%～108%。