高聚物P（EO）n-CuBr2薄膜在流体静高压下离子电导率和介电常数的提高(Ⅰ）发现三种不同相的压力效应

• 作者: 戴卫平 苏日方 苏骁
• 来源期刊: 高压物理学报
• 关键词: 聚乙烯氧化物薄膜 静水压 复阻抗谱 离子电导率 介电常数
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 12-23
• 页数: 12页
• 分类号: O521+.21|O631.2+3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-5773.2001.01.003

摘要

用混溶蒸发法制备出一系列高聚物P（EO）n-CuBr2（n＝4，8，12，16，24）薄膜，并详细测量它们在0．1～350MPa静水压范围内的复阻抗谱、在0．1～2400MPa静水压范围内的交流电导率以及介电常数。结果表明：离子电导率对压力的依赖关系（σ-p曲线)是条折线，可分解为四条直线相迭加。进一步做X射线衍射物相分析，它们分别归于PEO非晶相的压力效应、PEO结晶相的压力效应和析出CuBr2新相的压力效应。由此计算出上述三种不同相所对应的激活体积、截止压力各自随高聚物P（EO）n-CuBr薄膜组分的变化。为减小离子电导率的压力效应提供了物理基础。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴卫平	石油大学(北京)基础科学系	32	119	6.0	10.0
2	苏日方	石油大学(北京)基础科学系	3	10	2.0	3.0
3	苏骁	石油大学(北京)基础科学系	2	3	1.0	1.0