一种威布尔寿命分布模型

• 作者: 宋世斌
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 产品寿命分布 长记忆 加速寿命试验
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与评价
• 页码范围: 7-9
• 页数: 3页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2001.01.002

摘要

给出了一种产品的长记忆寿命模型,推导出产品寿命的威布尔分布特性,对产品寿命试验的设计、分析、仿真有一定的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋世斌	中山大学统计科学系	13	281	8.0	13.0