取向成像:一种有效研究晶体材料组织、结构及取向的技术

• 作者: 孙祖庆 杨平 毛卫民
• 来源期刊: 中国体视学与图像分析
• 学科: 工学
• 关键词: 取向成像 背散射电子衍射 织构
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 材料图像技术
• 页码范围: 50-54,32
• 页数: 6页
• 分类号: TG115.21
• 字数: 2522字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-1482.2001.01.012

摘要

目前我国已有十余家单位购置了背散射电子衍射(EBSD)晶体取向与结构分析系统.该系统安装在扫描电镜上后,可实现晶体材料微区范围内取向与结构的快速分析,揭示材料内部丰富的组织、结构与取向信息.作者简单介绍了该技术的硬件配置、取向数据的采集过程、利用Hough变换自动识别衍射菊池带的原理、取向数据的处理,特别强调了其主要应用,即取向成像()rientationMapping),并举例说明了晶体材料微区取向分布的特征,希望对该技术在我国的推广起到促进作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛卫民	北京科技大学材料学院	351	4505	35.0	51.0
2	杨平	北京科技大学材料学院	165	1478	20.0	32.0
3	孙祖庆		6	152	6.0	6.0