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摘要:
工程表面结构的粗糙度和波纹度之间一直没有明确的界限,而它们的产生原因及对零件表面性能的影响却是不同的.最近被国际标准所采纳的莫逖夫法(MOTIF)则提供了一种可供选择的分离未滤波轮廓的粗糙度和波度的新方法.对MOTIF法的基本概念、参数和表征方式作了初步的研究,并对几种传统的精加工方式加工的样块表面特征进行了描述.
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文献信息
篇名 表面结构的MOTIF参数表征
来源期刊 宇航计测技术 学科 地球科学
关键词 表面粗糙度 表面结构 MOTIF参数
年,卷(期) 2001,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 16-21
页数 6页 分类号 P2
字数 2340字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-7202.2001.04.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李成贵 北京航空航天大学自动化学院测控系 91 890 16.0 25.0
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节点文献
表面粗糙度
表面结构
MOTIF参数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
宇航计测技术
双月刊
1000-7202
11-2052/V
大16开
北京142信箱408分箱
18-123
1981
chi
出版文献量(篇)
2113
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3
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8082
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