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表面结构的MOTIF参数表征
表面结构的MOTIF参数表征
作者:
李成贵
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
表面粗糙度
表面结构
MOTIF参数
摘要:
工程表面结构的粗糙度和波纹度之间一直没有明确的界限,而它们的产生原因及对零件表面性能的影响却是不同的.最近被国际标准所采纳的莫逖夫法(MOTIF)则提供了一种可供选择的分离未滤波轮廓的粗糙度和波度的新方法.对MOTIF法的基本概念、参数和表征方式作了初步的研究,并对几种传统的精加工方式加工的样块表面特征进行了描述.
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文献信息
篇名
表面结构的MOTIF参数表征
来源期刊
宇航计测技术
学科
地球科学
关键词
表面粗糙度
表面结构
MOTIF参数
年,卷(期)
2001,(4)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
16-21
页数
6页
分类号
P2
字数
2340字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-7202.2001.04.004
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
李成贵
北京航空航天大学自动化学院测控系
91
890
16.0
25.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
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共引文献
(0)
参考文献
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研究主题发展历程
节点文献
表面粗糙度
表面结构
MOTIF参数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
宇航计测技术
主办单位:
中国航天科技集团公司一院102所
二院203所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1000-7202
CN:
11-2052/V
开本:
大16开
出版地:
北京142信箱408分箱
邮发代号:
18-123
创刊时间:
1981
语种:
chi
出版文献量(篇)
2113
总下载数(次)
3
总被引数(次)
8082
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