薄膜光学参数表征误差处理技术

• 作者: 吴素勇 杨开勇 龙兴武
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄膜 光学参数表征 偏导数筛选 系统误差 光度法
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 1919-1924
• 分类号: O484.4
• 字数: 5427字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20122408.1919

摘要

针对光度测量数据中难以消除的系统误差对薄膜光学参数表征精度的负面影响,提出一种新型的误差处理技术.选取薄膜光谱系数对折射率和几何厚度的一阶偏导数,对大部分测量入射角满足符号相反或只有其中一个为零的条件的波段,剔除偏导数对全部测量入射角满足符号相同或同时为零条件的奇点波长附近波段,作为反演表征用的光度测量数据采集区域,以最小化光度测量系统误差引起的薄膜光学参数反演表征值相对真实值的偏差大小.通过数值模拟实验,对比研究了该技术对不同偏振光和不同测量入射角范围的适用性及实施技巧,以可复现的数值实验数据和合理的理论解释支持和验证了这种误差处理技术的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙兴武	国防科学技术大学光电科学与工程学院	72	389	11.0	15.0
2	杨开勇	国防科学技术大学光电科学与工程学院	20	43	4.0	5.0
3	吴素勇	国防科学技术大学光电科学与工程学院	23	45	4.0	5.0