接插件影响数字信号传输的微观分析

• 作者: 吴宗汉 孙健 孙承休 王茂祥 章继高
• 来源期刊: 光通信研究
• 学科: 工学
• 关键词: 电接触 负阻现象 SPP(Surface Plasmon Polariton) 数字信号误码
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 页码范围: 34-37
• 页数: 4页
• 分类号: TM501.3
• 字数: 2318字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-8788.2001.06.009

摘要

通信系统中接插件故障会造成对信号传输的影响.在电接触过程中因金属的氧化将形成金属-氧化物-氧化物-金属(MIIM)结构.文章从微观角度运用电子输运理论对MIIM结构的伏安特性和负阻现象进行论述并分析讨论对数字信号的影响,提出了信号工作电平选择-3～3 V区域可避免因接插件故障使信号发生畸变.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴宗汉		79	311	9.0	15.0
2	王茂祥		38	193	8.0	12.0
3	孙承休		11	14	2.0	2.0
4	章继高		17	173	8.0	12.0
5	孙健		22	53	5.0	6.0