掺锡C60薄膜材料的电子结构与电导性研究

• 作者: 伍春燕 何艳阳 张春华 张海燕 朱艳娟 梁礼正
• 来源期刊: 材料科学与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 锡掺杂 紫外可见光吸收 电阻
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 92-94
• 页数: 3页
• 分类号: TB383
• 字数: 1423字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2812.2001.03.018

摘要

本文报道了锡掺杂C60薄膜样品的扫描电镜,X射线衍射,紫外可见吸收光谱和电阻随温特性的测量结果;显示样品由纳米级颗粒组成,为面心立方结构,掺杂锡原子在禁带中形成施主能级,电阻随温度增加呈指数衰减,霍耳效应证实为N型半导体.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张海燕	广东工业大学应用物理系	195	1122	15.0	22.0
2	伍春燕	广东工业大学应用物理系	15	82	4.0	8.0
3	何艳阳	广东工业大学应用物理系	29	153	7.0	11.0
4	张春华	广东工业大学应用物理系	19	139	8.0	11.0
5	梁礼正	广东工业大学应用物理系	4	20	2.0	4.0
6	朱艳娟	广东工业大学应用物理系	1	0	0.0	0.0