现场STM针尖诱导Ag(111)表面局域刻蚀

• 作者: 吴剑鸣 施财辉 毛秉伟 谢兆雄 陈意安
• 来源期刊: 电子显微学报
• 学科: 化学
• 关键词: 现场扫描隧道显微镜技术 针尖诱导 Ag(111) 局域刻蚀 Iˉ
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 645-648
• 页数: 4页
• 分类号: O646.6|TG174.36|TN16
• 字数: 2301字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6281.2001.05.022

摘要

本文报道用现场扫描隧道显微镜技术(in-situ STM)研究Ag(111)电极表面局域刻蚀.实验表明,STM针尖可以诱导有Iˉ特性吸附的Ag(111)电极在其电化学稳定区发生表面局域刻蚀,刻蚀的发生与程度与针尖电位、样品电位及偏压等因素有紧密关系,刻蚀速度在偏压最小时达最大.刻蚀的发生也间接反映了电化学体系中的多重隧穿途径及其随电极电位的变化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢兆雄	厦门大学化学系	16	79	4.0	8.0
2	吴剑鸣	厦门大学化学系	4	53	2.0	4.0
3	毛秉伟	厦门大学化学系	16	89	3.0	9.0
4	陈意安	厦门大学化学系	2	2	1.0	1.0
5	施财辉	厦门大学化学系	2	75	1.0	2.0