热打印头的失效机理与寿命分析

• 作者: 姚素英 张生才 申云琴
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 薄膜热印头 热打印机 失效机理 寿命
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 181-184
• 页数: 4页
• 分类号: TM241.2|TP202.1
• 字数: 2353字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2001.02.016

摘要

在对热印头进行高温存储实验、震动实验、脉冲加热实验和实际打印实验的基础上，总结出热印头失效的五种模式，并分析了各种模式的失效原因；论述了提高热印头寿命的措施。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚素英	天津大学电子信息工程学院	160	911	14.0	21.0
2	张生才	天津大学电子信息工程学院	41	316	11.0	15.0
3	申云琴	天津大学电子信息工程学院	5	13	2.0	3.0