微电子器件多失效机理可靠性寿命外推模型

• 作者: 李志国 李杰 程尧海 郭春生
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 微电子器件 失效机理 快速评价
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 专家论坛
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2004.04.003

摘要

提出了一种新的微电子器件快速评价方法,具有快速、准确、成本低、能观察分析参数退化的全过程,能有效地分析器件的失效机理.它与常规方法不同,可对单样品求出不同失效阶段的失效激活能和寿命,根据其参数退化的温度范围可外推出单样品工作条件下的寿命.通过一定数量的对比试验,该方法与常规方法有可比性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志国	北京工业大学电子信息与控制工程学院	57	418	12.0	18.0
2	郭春生	北京工业大学电子信息与控制工程学院	44	302	10.0	15.0
3	程尧海	北京工业大学电子信息与控制工程学院	17	154	6.0	12.0
4	李杰	北京工业大学电子信息与控制工程学院	7	54	3.0	7.0