真空电子器件的失效模式及原因分析

• 作者: 王博
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 真空电子器件 失效模式 失效原因
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 15-17
• 页数: 3页
• 分类号: TN103
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2007.03.005

摘要

通过研究真空电子器件可靠性的国内外动态,发现国产真空电子器件的可靠性与国际先进水平相比还存在较大的差距.为了寻找改进的切入点,从器件结构和使用环境两方面讨论了国产真空电子器件的常见失效模式及其失效原因,为进一步地开展国产真空电子器件的可靠性研究进行有益的探索.