正电子用于检测金的纳米表面缺陷

• 作者: 段庆文
• 来源期刊: 稀有金属快报
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 分析·检测
• 页码范围: 22
• 字数: 1024字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-3962.2001.03.026