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摘要:
制备了掺有Sb2O3不同掺杂量的ZnO压敏陶瓷样品采用扫描电镜对样品进行显微结构分析,研究了mb2O3掺杂浓度对ZnO压敏电阻显微结构和性能的影响测量了样品的电性能.由样品C V特性的测量计算出晶界参数,并由此讨论了陶瓷电性能与晶界特性的相关性研究发现.在ZnO压敏陶瓷样品中掺杂适量的Sb2O3可以提高ZnO压敏陶瓷样品的非线性性能,但当Sb2O3的摩尔分数超过0 088%时,电性能反而劣化,这是因为Sb2O3掺杂浓度不同会引起晶界势垒高度、施主浓度及陷阱态密度的变化,因此Sb2O3掺杂量要控制在适当的范围内.
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文献信息
篇名 Sb2O3掺杂对ZnO压敏陶瓷晶界特性和电性能的影响
来源期刊 硅酸盐学报 学科 工学
关键词 氧化锌压敏陶瓷 氧化锑 电性能 晶界
年,卷(期) 2001,(6) 所属期刊栏目 简报
研究方向 页码范围 602-605
页数 4页 分类号 TN304.93
字数 2889字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0454-5648.2001.06.020
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 龚树萍 华中理工大学电子科学与技术系 23 390 11.0 19.0
2 张丛春 华中理工大学电子科学与技术系 2 94 2.0 2.0
3 周东祥 华中理工大学电子科学与技术系 33 486 13.0 21.0
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