Multiplicity factor and diffraction geometry factor for single crystal X-ray diffraction analysis and measurement of phase content in cubic GaN/GaAs(001) epilayers

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篇名	Multiplicity factor and diffraction geometry factor for single crystal X-ray diffraction analysis and measurement of phase content in cubic GaN/GaAs(001) epilayers
来源期刊	中国科学A辑(英文版)	学科	物理学
关键词
年，卷（期）	2001,（4）	所属期刊栏目	Physics
研究方向		页码范围	497-503
页数	7页	分类号	O4
字数		语种	英文
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