存在共道干扰的多径衰落环境中手机双天线系统性能研究

• 作者: 余川 文舸一
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 手机双天线 本征激励方向图 共道干扰 多径衰落 最优合并
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 天线理论与技术
• 页码范围: 177-181
• 页数: 5页
• 分类号: TN82|TN925
• 字数: 3547字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2001.02.009

摘要

将城市室外电波传播模型、手机天线本征激励方向图以及信号合并方式相结合,建立了分析在具有共道干扰的多径衰落环境中手机双天线系统的性能模型.用这一模型研究了采用最优合并方式的手机上双单极子天线系统的性能,分析了合并性能受共道干扰强度、天线互耦以及机身的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余川	成都电子科技大学应用物理研究所	1	5	1.0	1.0
2	文舸一	成都电子科技大学应用物理研究所	1	5	1.0	1.0