空心圆柱体131I取样滤盒γ探测效率刻度法

• 作者: 刘明健 张燕 慕建伟 郭庆元
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 131I 取样 刻度 探测效率
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 56-58
• 页数: 3页
• 分类号: TL81
• 字数: 1464字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2001.01.016

摘要

通过实验与计算,导出空心圆柱体截面的γ探测效率与炭层厚度的函数关系以及空心圆柱体取样滤盒131I炭层指数分布和均匀分布的γ探测效率,给出了空心圆柱体131I取样滤盒γ探测效率的刻度方法及误差。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘明健		23	80	5.0	8.0
2	张燕		23	55	4.0	6.0
3	郭庆元		2	9	1.0	2.0
4	慕建伟		2	9	1.0	2.0