数码管的常见失效模式与机理

• 作者: 王宏全
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 数码管 失效模式 工作原理 电子管
• 年，卷（期）: 2001,（8）
• 页码范围: 43-44
• 页数: 2页
• 分类号: TN11

摘要

本文介绍数码管的常见失效模式与机理，提出使用数码管时的注意事项。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宏全		2	0	0.0	0.0