四余度伺服机构可靠性试验方法研究

• 作者: 何建军 李沛琼 王少萍
• 来源期刊: 北京航空航天大学学报
• 学科: 航空航天
• 关键词: 可靠性试验 伺服机构 寿命试验 威布尔过程
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 36-39
• 页数: 4页
• 分类号: V216.5+7
• 字数: 3672字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5965.2001.01.010

摘要

由于四余度伺服机构高可靠性、短寿命设计的特点，使基于大样本长时间的指数分布可靠性试验方法难以奏效.根据四余度伺服机构纯耗损的故障机理，对其可靠性试验方法进行了研究，提出了基于威布尔过程的可靠性试验及参数统计方法.在3个基本假设的基础上，对故障率逐步提高的纯耗损型产品在寿命末期进行工作点线性化处理，认为短任务时间内威布尔过程瞬时故障率可近似等于当前工作点的指数分布故障率，把威布尔过程可靠性试验与指数分布可靠性试验有机地结合起来.试验结果表明，基于威布尔过程的可靠性试验方法可以大大缩短试验时间，节省试验费用，为高可靠性机电产品的可靠性试验提供了一种有效的途径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王少萍	北京航空航天大学自动控制系	102	1107	16.0	31.0
2	李沛琼	北京航空航天大学自动控制系	4	13	2.0	3.0
3	何建军	北京航空航天大学自动控制系	1	0	0.0	0.0