MEMS惯性传感器可靠性试验方法研究

• 作者: 谢劲松 雷昕
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 微机电系统 惯性传感器 失效机理 可靠性试验
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 13-18
• 页数: 6页
• 分类号: TP212
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.06.004

摘要

MEMS惯性传感器在军事与商业应用中的一个主要问胚便是可靠性试验方法尚未标准化,因而目前绝大多数MEMS惯性传感器器件的可靠性试验依据的是微电子的试验标准.但是,这些标准对于这类器件的适用性却受到许多机构的质疑,国外关于该问题的研究也已起步.汇总了MEMS惯性传感器器件的结构和工作原理等信息,重点总结了该类器件的典型环境失效机理,并将典型的环境载荷情况与失效机理进行了对比分析:从现有的微电子可靠性试验标准中选取了针对不同环境失效机理的试验方法,并对其适用性问题进行了讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢劲松	北京航空航天大学工程系统工程系	32	499	10.0	22.0
2	雷昕	北京航空航天大学工程系统工程系	2	13	2.0	2.0