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硅压力传感器的可靠性测试
硅压力传感器的可靠性测试
原文服务方：
电子产品可靠性与环境试验
摘要：
硅压力传感器的可靠性测试技术研究受到了国内外的重视,对它的测试项目及其加速寿命测试方法进行了综述.
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文献信息
| 篇名 | 硅压力传感器的可靠性测试 | ||
| 来源期刊 | 电子产品可靠性与环境试验 | 学科 | |
| 关键词 | 硅压力传感器 可靠性测试 失效 | ||
| 年，卷（期） | 2003,（2） | 所属期刊栏目 | 国外可靠性与环境试验技术 |
| 研究方向 | 页码范围 | 58-60 | |
| 页数 | 3页 | 分类号 | TP212.1 |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.02.014 | ||
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硅压力传感器
可靠性测试
失效
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期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位：
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期：
双月刊
ISSN：
1672-5468
CN：
44-1412/TN
开本：
大16开
出版地：
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号：
创刊时间：
1962-01-01
语种：
中文
出版文献量（篇）
2841
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