电子设备中机内自检BIT的设计

• 作者: 刘世军
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 电子装备 BIT 故障检测 虚警
• 年，卷（期）: 2001,（12）
• 所属期刊栏目: 电子技术应用
• 页码范围: 53-55
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2001.12.019

摘要

介绍了电子设备中BIT的应用和类型,着重阐述了BIT设计中的要求和余度、环绕、特征分析和模拟等几项关键技术,讨论了BIT技术目前存在的虚警问题及减少的几种措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘世军		3	18	2.0	3.0